二手 JEOL JFS 9855S #293645448 待售

JEOL JFS 9855S
製造商
JEOL
模型
JFS 9855S
ID: 293645448
Focused Ion Beam (FIB) System.
JEOL JFS 9855S掃描電子顯微鏡是一種高度先進的設備,可以對納米級樣品進行詳細分析。這種顯微鏡利用了幾種成像技術的組合,包括掃描電子顯微鏡、二次電子成像和反向散射電子成像。JFS 9855S是一種高性能工具,在各種應用程序中具有極高的競爭性能水平。顯微鏡采用一種高度專業化的電子光學器件,其設計目的是產生聚焦且定義明確的電子束。高分辨率掃描電子探測器能夠為樣品提供分辨率高達1納米的圖像。此外,系統的二次和反向散射電子檢測系統還能夠對納米級的特征進行成像。這允許廣泛的應用,包括材料科學和半導體制造中的樣品分析。JEOL JFS 9855S顯微鏡還能夠進行多種成像技術,包括常規掃描電子顯微鏡、反向散射電子成像、二次電子成像和能量色散光譜。此外,該系統還包括各種自動化控制和用戶友好界面,大大簡化了樣本準備和數據采集過程。JFS 9855S還包括一些高級功能,例如自動濺射塗層室,它允許在樣品表面上創建碳、金或其他金屬的薄而均勻的塗層。這種均勻塗層的樣品表面是生產高質量圖像以及確保樣品在成像過程中不會損壞所必需的。利用所有這些功能,JEOL JFS 9855S為用戶提供了一種能夠準確可靠地生成高分辨率納米結構圖像的工具。總體而言,JFS 9855S掃描電子顯微鏡是一種功能強大且高度先進的儀器,旨在提供高性能和可靠的納米成像效果。通過利用先進的電子光學和廣泛的成像技術,JEOL JFS 9855S可以獲得比傳統成像技術更詳細的納米結構圖像。JFS 9855S具有令人印象深刻的特性和功能,是希望在高分辨率水平上分析納米結構或半導體樣品的用戶的絕佳選擇。
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