二手 JEOL JIB-4700F #293775629 待售

JEOL JIB-4700F是一種前沿掃描電子顯微鏡（SEM），設計用於納米級的高性能成像和分析。這種先進的儀器集成了最先進的電子光學、高度穩定的光束系統和多用途的檢測能力，提供卓越的成像分辨率和分析精度。JIB-4700F的核心是它的電子柱，它有一個高亮度電子槍，能夠產生具有納米級分辨率的聚焦電子束。這種電子束用於掃描被檢驗樣品的表面，使SEM能夠以非凡的細節和清晰度捕捉高質量的圖像。JEOL JIB-4700F配備了一系列加速電壓，以適應不同樣品類型和成像要求，允許用戶優化成像條件以增強對比度和分辨率。JIB-4700F的關鍵特征之一是其先進的電子檢測系統，包括固態反向散射電子（BSE）檢測器、二次電子（SE）檢測器和能量色散X射線光譜儀（EDS）。這套全面的探測器使SEM能夠同時獲取各種成像和分析數據，提供對樣品組成、地形和元素分布的洞察。JEOL JIB-4700F中的固態BSE檢測器是根據反向散射電子的強度，在入射電子束與樣品相互作用時發射的，用來捕捉樣品表面形態和組成的圖像。通過分析BSE信號,用戶可以可視化諸如晶界、相位邊界和材料對比度等特征,使其非常適合表征各種材料中的微結構和組成。JIB-4700F中的二次電子探測器對由於一次電子束相互作用而從樣品表面發射的低能電子敏感。該探測器常用於表面地形的高分辨率成像，在納米級提供對表面粗糙度、紋理和精細結構的詳細洞察。通過結合SE和BSE成像模式，用戶可以獲得全面的表面信息，並以顯著的清晰度可視化復雜的樣本細節。除了成像能力外，JEOL JIB-4700F還配備了能量色散X射線光譜儀（EDS），用於元素分析和制圖。EDS系統檢測樣品因電子束與樣品原子相互作用而發出的特征X射線，使用戶能夠以高靈敏度和空間分辨率識別和量化元素組成。通過結合SEM成像進行EDS分析，研究人員可以將元素分布與樣品形態關聯起來，獲得對材料性質和化學成分的寶貴見解。總體而言，JIB-4700F掃描電子顯微鏡是材料科學、納米技術、地質等科學領域先進成像分析的通用、強大工具。JEOL JIB-4700F憑借其尖端的電子光學、精確的光束控制和全面的檢測能力，為研究人員提供了豐富的納米級樣品結構、組成和性能信息，使其成為現代顯微鏡和微觀分析應用不可或缺的儀器。