二手 JEOL JSM 35 #9402450 待售

製造商
JEOL
模型
JSM 35
ID: 9402450
Electron microscope Sample holder and filaments.
JEOL JSM 35是一種掃描電子顯微鏡(SEM),提供廣泛的影像應用,使其成為科學研究的強大工具。它具有豐富的特性和功能,使其成為獲取高分辨率圖像的理想工具。與其他SEM相比,JSM 35具有卓越的分辨率和圖像質量,結構簡單且經濟實惠。它以鎢絲槍為特色,帶有兩級熱電子電子源。這樣可以實現更高的光束電流和更好的分辨率,最高可達250 nm。該儀器還具有多種探測器,如二次電子探測器、能量色散X射線探測器和反向散射電子探測器,以提高成像能力和增強元素分析顯示。JEOL JSM 35允許用戶根據需要從各種掃描模式中進行選擇。這些包括掃描模式,如可變壓力、可變電流和可變斑點大小掃描。此外,此工具允許用戶在可互換的映像模式之間進行選擇。這些模式中的選擇包括二次電子成像、可變壓力成像和反向散射電子成像。JSM 35也可用於準備樣品作進一步檢查。手動操作系統的機械手,樣品支架和真空系統可以方便地選擇和移動樣品基板。該儀器配備了一套可通過內置狀態機配置的自動對齊和跟蹤程序。這使用戶能夠快速、精確地查找樣本上的點,並準確地從一個點移動到另一個點。這種可靠的自動化簡化了分析,允許更詳細的圖像捕獲和數據收集,從而減少了在單個實驗上花費的總時間。數字界面允許與其他圖形設計、分析和CAD程序輕松集成。這使用戶能夠快速、輕松地共享和交流他們的結果。此外,此SEM能夠訪問更高的分辨率,使用戶能夠更仔細地檢查和評估樣品的表面。JEOL JSM 35是SEM的絕佳選擇。它具有強大的特性、分辨率和自動化功能,是科學研究和影像應用的絕佳選擇。
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