二手 JEOL JSM 35C #9192676 待售

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製造商
JEOL
模型
JSM 35C
ID: 9192676
Scanning electron microscope (SEM) With EDX (Link 860).
JEOL JSM 35C掃描電子顯微鏡(SEM)是一種先進的儀器,用於多種行業,在微觀層面放大和識別物體。這種強大的顯微鏡可產生高分辨率放大倍率,詳細顯示樣品的精細特征。它既能提供三維圖像,又能提供元素構圖,使得JSM 35C在材料科學、納米科學、工業固態和材料研究等研究領域尤其有價值。JEOL JSM 35C配備了通過數字成像和存檔設備運行的掃描電子柱。可為每個樣本輕松定制源控制和成像參數。它能夠以多種模式運行,包括二次電子、反向散射電子和反向散射能譜。這種靈活性使其成為廣泛應用的理想顯微鏡,如觀察和分析表面結構特征、映射元素分布以及分析樣品之間的連接。先進的顯微鏡具有5x10-7 Torr的極致真空。其發射電流範圍為0.1 pA至100 nA,標準波長為12.5 nm。對其檢測系統進行了優化,以實現極好的分辨率性能和低噪聲對比度。為了盡量減少樣品損壞,JSM 35C具有1x10-6 Torr的超低真空。JEOL JSM 35C的數字成像和歸檔單元包括舞臺運動、探測器和舞臺的電機控制功能。它最多可以存儲三百萬個圖像,在表格中收集數據,還可以從數據或圖像生成報告。此外,該機器還提供用戶友好的網絡連接器和軟件。JSM 35C因其先進的能力和極致真空、低噪聲、超低真空操作等特點,是研究的理想工具。它非常適合材料科學、納米科學以及工業固態和材料研究等廣泛的應用。集成的數字成像和歸檔工具可以方便地存儲和報告數據和圖像,從而增加了JEOL JSM 35C的整體效用。
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