二手 JEOL JSM 35C #9355833 待售

JEOL JSM 35C掃描電子顯微鏡（SEM）是為常規和分析成像能力而設計的高性能儀器。儀器裝有場發射槍（FEG），產生具有30 kV加速電壓的高照明電子束，並能夠達到1.5 nm的分辨率。該系統還配備了EDS檢測器，允許對樣品進行半定量元素分析。JSM 35C還提供多種成像技術。這個SEM兼具二次電子成像（SEI）和反向散射電子成像（BSI）的能力。SEI允許用戶可視化樣品的表面形態、地形和元素組成。BSI允許在納米尺度上觀察樣品的結構和內部特征。自動級允許樣品在電子束下精確定位。使用此SEM可以成像的樣本大小可以從幾毫米到幾微米不等。SEM還可以在高達1000 °C的溫度下使用合適的標本支架來容納樣品。JEOL JSM 35C是一種通用儀器,能夠自動精確測量樣品參數,如尺寸、表面積和厚度。此外，SEM可以用於三維成像植物、動物標本和其他物體。SEM的分辨率不受其像素陣列的限制，使得獲得其他成像技術無法獲得的極高分辨率的對象圖像成為可能。JSM 35C內置的樣品制備特性允許用一層薄薄的導電材料塗覆樣品，以保護和保存樣品免受電子束的傷害。還可以通過調整檢測器靈敏度和電子束條件來操縱圖像的亮度和對比度。最後,SEM包括對光束進行自動導航控制的功能,允許單擊即可選擇樣本的較大區域。總體而言，JEOL JSM 35C是一款符合人體工程學設計的掃描電子顯微鏡，為用戶提供一系列具有高分辨率的高級成像功能。除了自動化的樣品準備、導航控制和測量功能外,JSM 35C還能夠輕松執行許多分析要求最高的任務。