二手 JEOL JSM 5200 #293655828 待售

製造商
JEOL
模型
JSM 5200
ID: 293655828
Scanning Electron Microscope (SEM).
JEOL JSM 5200是一種先進的掃描電子顯微鏡(SEM)。它是利用先進的電子微觀設計技術構建的,使其能夠以高分辨率成像。JSM 5200具有高達30 kV的加速電壓範圍,利用二次電子、反向散射電子和發射電子產生可用於分析表面形態和化學成分的電子圖樣。它還有一個帶有發射探測器的腔室,允許它檢測可能影響分析的樣本氣體和化學物質。JEOL JSM 5200配備了強大的成像設備,可產生高分辨率的大視野。它的數字脈沖處理器(DPP)提供超高靈敏度,允許改進對比度和分辨率。顯微鏡還有一個具有高速檢測能力的檢測系統,可提供快速的采集速度。該單元還能夠在多個渠道中從標本收集數據,允許進行各種分析結果,如元素映射和化學成分分析。JSM 5200擁有先進的標本級控制機,為精確的樣品定位提供精確的位置和角度控制。光束控制工具通過控制光束電流、偏轉、光斑大小、光束聚焦和散光,提供精確、高對比度的圖像。顯微鏡能夠對多個樣品階段進行自動掃描和對準,也能夠進行自動圖像處理。JEOL JSM 5200具有直觀的控制資產,允許用戶快速設置實驗並控制顯微鏡性能水平。顯微鏡還與包括JEOL自己的SEMI套件在內的各種成像軟件包兼容。該模型還可以連接到探測器和X射線源等外圍設備,以適應多種分析技術,包括二次電子顯微鏡(SEM)、掃描透射電子顯微鏡(STEM)、能量色散光譜(EDS)、能量過濾成像(EFI)和X射線熒光(XRF)。總體而言,JSM 5200是一種功能強大且用途廣泛的掃描電子顯微鏡,能夠提供多種成像和分析功能。憑借其先進的成像設備、強大的樣品級控制、直觀的控制系統,這款顯微鏡可以幫助用戶查找和分析高度精確的信息,方便了廣泛的研究和分析需求。
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