二手 JEOL JSM 5200 #293663420 待售

JEOL JSM 5200掃描電子顯微鏡（SEM）是一種用途廣泛、功能強大的詳細顯微鏡測量儀器。通過該儀器的高分辨率成像能力，可以非常詳細地觀察到小物體和感興趣的特征，放大倍數可達x 140,000。JSM 5200使用的電子源是熱電子場發射槍（FEG），具有啟動快、穩定性大的優點。待觀測的樣品在系統的真空室中充滿電子束，由此產生的二次電子圖像被捕獲並顯示在監視器上。JEOL JSM 5200包含一些功能,可幫助提高圖像質量。在這些特性中，有自動對焦調節、散焦漂移校正、散光校正和數字超級分辨率，可以對圖像質量和分辨率進行精確控制。創新的Digital Super Resolution技術使系統能夠捕捉到更多關於彼此接近的特性的信息，產生與傳統技術相比具有優越清晰度的圖像。除了前述技術外，儀器還附有一系列檢測器，以各種方式探測樣品反射出的電子，允許多種測量能力。這些探測器包括二次電子探測器、反向散射電子探測器、陰極發光探測器和能量色散X射線探測器。後者提供特定於元素的成像，並允許分析樣品表面和旁邊的化學成分。JSM 5200還提供了用於高級圖像分析的軟件包AZtecLive。該軟件提供了一系列高級功能，包括自動點選擇和對比度調整，以及可用於測量樣本各種參數的點線配置文件。此外，JEOL JSM 5200易於使用，因為用戶界面直觀，包含廣泛的用戶友好功能。該系統非常適合各個領域的許多觀測應用，如材料科學應用、故障分析研究、生物組織觀測和納米級研究。