二手 JEOL JSM 5200 #9082752 待售

JEOL JSM 5200是一種掃描電子顯微鏡，設計兼具優越的分辨率和低背景噪聲。它能夠對納米結構進行高對比度成像，在二次電子（SE）模式下分辨率為0.6 nm，在SE模式下最小工作距離為8 mm。該儀器配備了兩個標準的SE和反向散射電子（BSE）成像探測器。它還能夠生成復雜納米結構的高對比度圖像，如量子點和納米棒，而無需特殊的標本制備。JSM 5200是一種結合了低真空和環境掃描電子顯微鏡（ESEM）的雙束儀器。這兩種模式都能夠獲得0.2nm分辨率,同時保持低水平的背景噪聲。此外，儀器能夠在各種調制模式下運行，如靜壓和可變壓力。這使用戶能夠針對不同類型的樣本優化環境。JEOL JSM 5200的試樣階段被溫度控制，以提高樣品穩定性，並允許觀察溫度敏感的樣品。顯微鏡還能夠獲取樣品的實時圖像，從而能夠研究細胞遷移等動態過程。JSM 5200能夠以多種方式生成顏色，包括色差校正、亮度和對比度增強，以及使用來自三個不同探測器的信號進行圖像合成。此外,它還能夠以多種格式存儲圖像,包括TIFF、BMP和JPEG。最後，JEOL JSM 5200配備了一個全自動的標本準備單元，允許抽取標本進行表征。該單元由一個自動裝載機、一個壓力安裝架和一個可變壓力級組成，可容納各種樣本量和形狀。總體而言，JSM 5200是一種出色的掃描電子顯微鏡，能夠提供低背景噪聲的高分辨率納米結構圖像。其雙光束功能、自動化的樣品制備單元以及多種調制模式使其成為各種成像應用的理想選擇。