二手 JEOL JSM 5200 #9176403 待售

製造商
JEOL
模型
JSM 5200
ID: 9176403
優質的: 1990
Scanning electron microscope (SEM) 1990 vintage.
JEOL JSM 5200是一種高性能、掃描電子顯微鏡(SEM)。它結合了可變壓力SEM和高分辨率SEM的高效能力,為研究人員提供了無與倫比的便利和精確。顯微鏡具有高度靈敏的能量色散X射線檢測器,能夠進行高分辨率的元素分析。此外,它還配備了一個可調的試樣室,以便於操作和最佳的結果。該裝置因其先進的能力在一系列工業和學術研究中廣受歡迎。JSM 5200的工作距離為3mm,另外還有高達3.6mm的範圍,可以在上面附加各種標本尺寸。此外,它還有一個13.6mm的氣流孔徑,可以讓用戶在健康的環境中工作。SEM與一系列不同的反向散射電子探測器配合使用,為用戶提供了適應自己需求的靈活性。顯微鏡還采用了Everhart-Thornley二次電子探測器,在極端放大時達到最大穩定性。JEOL JSM 5200為用戶提供高達1.7 nm的出色分辨率。這使得研究人員能夠觀察到通常用常規顯微鏡看不見的復雜細節。掃描系統旨在讓研究人員設置任意詢問模式,從而有可能進行復雜的研究。SEM配備了自動導航系統,引導用戶逐步完成實驗,以獲得最大的成功。軟件的用戶界面易於理解和導航,允許快速操作。此SEM在元素分析方面提供了卓越的速度和準確性,同時用戶能夠存儲其數據以供將來參考。該儀器具有30 kV/200nA電子源,能夠進行高分辨率成像而無需任何樣品制備。它的自動化階段確保了樣品分期優化,為用戶節省了寶貴的時間,並確保了準確的結果。這使得它成為定性分析和基礎研究的理想選擇。總體而言,JSM 5200是一種先進的掃描電子顯微鏡,非常適合各種研究應用。它提供了出色的分辨率,能夠進行元素分析,使其成為市場上最搶手的SEM之一。
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