二手 JEOL JSM 5310 #293607014 待售

JEOL JSM 5310是一種具有高分辨率、高速成像和無與倫比的分析能力的掃描電子顯微鏡（SEM）。其高效高壓電子源的廣域STEM （WF-STEM）成像系統被設計為產生無與倫比的3D圖像分辨率水平。其高性能的矽漂移檢測器放大並增強了來自小粒子、低對比度特征和低Z元素區域的SEM信號。此外，風場模式允許在不同傾斜角上快速和廣域成像樣品。JSM 5310配備了單柱低真空系統，保留了細膩的樣品結構，並提供樣品階段的直接表面接觸。微調掃描技術還為ASTAR和實時結構檢測等各種成像模式提供了更高的精度和穩定性。減壓模式（RP Mode）允許在低真空長期觀測期間減少腔室汙染。JEOL JSM 5310是一款超高分辨率、高吞吐量的先進成像系統。高圖像對比度、高速度和低噪聲相結合，使其適用於各種納米級材料，如集成電路、納米線、柵格、納米機電系統等。其CrystalSnapper功能提供實時自動可視化和晶體識別，對生命科學應用有用。JSM 5310可以添加一個可選的二次電子（SE）檢測器，以提供更高的SE靈敏度、SE對比度和SE動力學。這種SE檢測器還可以提高元素圖的穩定性和對比度，更詳細地鑒定樣品。JSM 530的Compact Mode也是一個有趣的功能,它有助於最大限度地提高成像效果,減少占用空間並降低成本。整體JEOL JSM 5310是一款超高分辨率SEM，憑借先進的成像技術、低真空成像能力和可選的SE檢測器，滿足了廣泛的高端分析需求。高質量的成像結果和復雜的分析功能使其成為大多數成像和分析需求的理想選擇。