二手 JEOL JSM 5310 #9168864 待售

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製造商
JEOL
模型
JSM 5310
ID: 9168864
優質的: 1995
Scanning electron microscope (SEM) Includes: OXFORD EDX Detector 1995 vintage.
JEOL JSM 5310是一款先進的掃描電子顯微鏡,旨在提供高質量的成像能力,具有出色的分辨率,允許對廣泛的標本進行近距離觀察和詳細分析。JSM 5310具有高分辨率熱場發射槍(TFEG),具有增強的電子光學器件,可提高分辨率,並能夠生成各種樣品的高分辨率圖像。顯微鏡采用超穩定、低振動、屏蔽的外殼結構,使用戶能夠獲得無噪聲、低漂移的圖像,並具有出色的分辨率、對比度和景深。該設備非常適合需要納米級精度的成像應用,如CD測量、密集樣品的3D成像、原子力顯微鏡和電子光對比度成像。JEOL JSM 5310在顯微鏡中內置了集成的數字圖像處理系統,可以讓用戶快速直觀地處理圖像。先進的ProScan II Real-Time CCD檢測器單元可實現高對比度成像,刷新速度快,提供清晰的圖像,信號噪聲最小。CCD探測器還包括一個高靈敏度的ElecPhase分析特征,用於微分析能力。顯微鏡具有25mm的大工作距離和高達500,000 x的高放大倍率範圍,使它能夠在幾乎任何大小的樣品上產生極其詳細的圖像。大的放大倍率範圍也使得JSM 5310完全適合廣泛的應用,如微結構研究、光學光刻、逆向工程、半導體加工和材料表征。顯微鏡配有專用的軟件包,用於控制成像機的各個方面,並具有廣泛的選項,讓用戶能夠根據自己的具體需求量身定制配置。它完全基於PC,使用戶能夠快速、方便地存儲和分析其數據。JEOL JSM 5310為幾乎任何類型的成像應用提供了易於使用、高度可靠和數據豐富的工具。它是對各種樣品進行高分辨率成像和微觀分析的理想選擇,能夠為從研發到生產和質量控制等應用提供卓越的成果。
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