二手 JEOL JSM 5400 #293771286 待售

JEOL JSM 5400是一種高性能掃描電子顯微鏡（SEM），利用一個大的真空室和柱子來探測從被調查樣品發出的電子。它是檢測有機物和無機物細粒結構的流行選擇，其應用範圍廣泛，從材料科學到生物醫學。JSM 5400利用位於後加速室的電子槍。該槍能夠將電子加速到20 keV的能量，然後將它們傳遞到標本室。然後，電子被冷凝器透鏡聚焦，被引導到掃描到樣品上的光束中。通過樣品的電子將能量轉移到樣品上，從而產生二次信號，如反向散射電子和二次電子。這些信號由安裝在反向散射柱中的電子探測器檢測，可以進行分析以創建高分辨率的樣品表面圖。JEOL JSM 5400設備能夠產生高達300 nm的高分辨率圖像,並提供了曲面特征的詳細視圖。它還包括變壓掃描、二次電子成像，甚至能量色散X射線光譜（EDS）等各種系統，用於樣品的元素組成分析。該系統還集成了用於執行自動圖像縫合的硬件,這樣就可以對樣本的較大區域進行成像,而不會在圖像之間產生間隙。此外，JSM 5400還可以配備自動對焦單元。本機監視樣品的二次電子圖像，實時調節電子槍的束焦，保持圖像銳利。這改進了高度彎曲的樣品表面的成像,並減少了成像過程中用戶所需的幹預量。總體而言，JEOL JSM 5400是一款先進的SEM，適合在納米級成像高度精細的表面。它具有廣泛的特點，是許多研究微小標本的研究者非常流行的選擇。它為研究人員提供了一種以前所未有的細節檢查樣品的方法，從而可以更深入地了解材料的形態和組成。