二手 JEOL JSM 5400 #9176404 待售

JEOL JSM 5400是一種高性能掃描電子顯微鏡（SEM），設計用於各種成像和分析需求。通用儀器套件具有高分辨率的SEM設備，結合高真空室和廣泛選擇的探測器和樣品級。這種技術的結合使顯微鏡具有無與倫比的靈活性和成像和分析能力。SEM具有可變壓力輔助柱,最大工作壓力為5 x 10-7 Pa。這有助於保持汙染物遠離樣品,從而提高成像清晰度。直接光束對準系統確保樣品定位精確，有助於準確測量樣品特征。高壓電源允許廣泛的電子束能量，使其適合多種材料，包括但不限於金屬、半導體、絕緣體、碳氫化合物和分子晶體。JSM 5400還提供了廣泛的成像和分析檢測器選擇，包括節能能量色散X射線光譜儀（EDS）、能量過濾透射電子顯微鏡（EFTEM）檢測器、二次電子檢測器（SED）和離子束分析檢測器（IBAD）。使用EDS和SED檢測器,用戶可以快速輕松地表征樣本屬性並執行元素映射,從而獲得對樣本組成的詳細了解。EFTEM被用於元素映射和研究樣品的超微結構，而沒有artificial inclusions。IBAD探測器允許一系列離子束分析技術。顯微鏡有一個獨特的樣本操作單元，允許自動化的可視化和操作多個樣本。自動化的樣品處理允許更快的樣品準備和更容易的樣品移動。專門的環境控制機設計為保持恒溫恒濕，使樣品在SEM的高真空環境中保持穩定。JEOL JSM 5400具有相對較小的占地面積和較高的用戶友好性，這使得它成為分析實驗室、研究設施甚至制造業和工業應用的理想選擇。JSM 5400具有廣泛的顯示圖像分辨率和現場大小功能,可為各種樣本類型提供出色的成像、高質量的數據可視化和強大的分析能力。