二手 JEOL JSM 5410 / MP 5410 #128977 待售
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ID: 128977
Scanning electron microscope
Voltage: 100V +/- 10V
Current maximum: 25A
Starting current maximum: 70A
Power maximum: 25 kVA
Frequency: 1 phase, 50 / 60 Hz
Ground resistance maximum: 100 ohm
Cooling water: 2 liters per minute.
JEOL JSM 5410/MP 5410是一種具有高分辨率場發射槍(FEG)的掃描電子顯微鏡(SEM),在廣泛的應用中提供卓越的高分辨率成像。JSM 5410/MP 5410具有先進的數字多通道電子光學設計、可變孔徑控制和寬分辨率數字信號處理器(DSP)圖像捕獲設備。JEOL JSM 5410/MP 5410利用高性能的500 mm孔徑場發射槍以及獨特的Equibar™ SuperDyn™電子光學系統來提供更高的成像清晰度。該成像單元還包括具有高指數縱向重新設計(HILR)的高動態範圍(HDR)成像,以確保盡可能高的分辨率和最佳成像結果。JSM 5410/MP 5410提供卓越的成像功能和廣泛的放大倍率,並具有大量的分析工具。其中包括用於材料元素映射的能量色散X射線(EDX)分析、用於測量表面地形的原子力顯微鏡(AFM)、用於晶粒特性映射的電子反向散射衍射(EBSD)以及用於汙染/粒子分析的粒子識別PET (PIE)。JEOL JSM 5410/MP 5410數字圖像捕獲機為用戶提供了一系列功能。這包括能夠捕獲單個曝光圖像以及集成時間長達30分鐘的多幀圖像。數字處理器也打開了使用高級噪聲濾波算法以及在對比度和強度上查看更大視場的可能性。該工具還提供了出色的視頻輸出,可以快速預覽顯示器和輔助設備上的圖像。輸出還可以實時處理並過濾以創建更高質量的圖像。JSM 5410/MP 5410的檢測器可以在自動或手動增益控制(AGC)模式下操作,以優化對比度和圖像分辨率。總體而言,JEOL JSM 5410/MP 5410是一種掃描電子顯微鏡,專為廣泛應用的高分辨率成像而設計。這款SEM配備了500毫米孔徑場發射槍和Equibar™ SuperDyn™電子光學資產,通過各種成像工具提供出色的成像清晰度。先進的數字信號處理提供了噪聲濾波算法和實時圖像處理等一系列功能,以優化圖像清晰度。
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