二手 JEOL JSM 5410 #293619134 待售

製造商
JEOL
模型
JSM 5410
ID: 293619134
Scanning Electron Microscope (SEM).
JEOL JSM 5410是一種掃描電子顯微鏡(SEM),設計用於高分辨率成像和分析超細結構。它配備了一個野戰發射槍(FEG)和一系列的功能為各種應用。FEG產生能量高達7 keV、光斑大小為1 nm的電子用於高分辨率成像,使得JSM 5410非常適合檢查樣品的精細細節。它也可以在較低電壓下用於較大的結構,例如集成電路上的特性。JEOL JSM 5410配備閉路數字成像設備,包括超穩定三滑PentaScan級、快速掃描模塊和31 cm/pixel可變掃描模塊。這使得微米級的精度在樣品定位和導航,以及靈活的采樣速度。顯微鏡還包括二次電子(SE)檢測器、反向散射電子(BSE)檢測器和高性能數字成像系統。JSM 5410使用混合成像檢測單元,帶有像素陣列檢測器、閃爍檢測器和熒光粉直接讀取機。與單一探測器相比,這種混合工具具有更高的檢測效率。JEOL JSM 5410包含一系列用於圖像采集和分析的軟件包,其中包括JEOL Autoscan軟件,該軟件為顯微鏡掃描、成像和測量提供自動控制。此外,JEOL圖像分析器軟件對SEM圖像提供了強大的定量和定性分析.JSM 5410還提供了一系列外部接口和選項,包括用於顯微鏡清洗的模式發生器和空氣流。這臺先進的電子顯微鏡提供各種操作模式、高質量的成像,以及各種成像和分析任務的廣泛功能。
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