二手 JEOL JSM 5410LV #9080015 待售

JEOL JSM 5410LV
製造商
JEOL
模型
JSM 5410LV
ID: 9080015
Scanning electron microscope, (SEM).
JEOL JSM 5410LV是一種先進的掃描電子顯微鏡(SEM)。這種SEM模型是一種高性能儀器,為廣泛的科學和工業應用提供成像和分析。它旨在提供高放大倍率和高性能,以便分析樣品的最佳細節。JSM 5410LV配備了多種高通量探測器,設計用於探測能量範圍廣泛的粒子。其中一個探測器是肖特基野外發射槍(FEG),即使是最細膩的標本也能產生高分辨率成像。該顯微鏡設備采用先進的場發射掃描電子顯微鏡(FE-SEM)和低壓掃描電子探測器(LVSEM)。這臺顯微鏡配備了高精度的多軸級,提供精確可靠的樣品操作。此外,一個自動樣品傳輸系統允許在舞臺上對樣品進行快速和一致的對齊。這樣就可以平滑的工作流程和準確定位樣品的不同部分以進行分析和成像。JSM 5610具有多種應用,如相差成像、背散射成像、二次電子成像和化學成像。它還支持多種分析技術,包括能量色散X射線光譜、俄歇電子光譜、陰極發光和低壓掃描電子顯微鏡(LV-SEM)。除了單元的高性能特性外,還配備了最新的圖形用戶界面(GUI)技術,使機器易於使用,並提供方便的數據可視化。JEOL JSM 5410LV在構建時也考慮到了魯棒性,並且設計用於在各種環境極端環境中運行。JSM 5410LV掃描電子顯微鏡是一種用於硬科學和工業應用的強大儀器。它提供高分辨率的圖像和分析功能,並且可以在各種環境極端情況下提供可靠的操作。JEOL JSM 5410LV具有多功能的多軸級、高性能檢測器和用戶友好的圖形用戶界面,是尋求先進且功能強大的SEM分析樣本的用戶的理想選擇。
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