二手 JEOL JSM 5500LV #293679583 待售
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ID: 293679583
優質的: 2001
Scanning Electron Microscope (SEM)
OXFORD Instrument
High vacuum mode
Low vacuum mode (1-130Pa)
SEI and BEI Detector
Modes: COMPO, TOPO, Shadow
LCD Display
2001 vintage.
JEOL JSM 5500LV掃描電子顯微鏡（SEM）是一種高性能分析工具,用於對不同科學學科的各種樣品進行高級成像和微觀分析。JSM 5500LV結合了最先進的功能和用戶友好的設計,以高放大倍率和高分辨率提供了詳細的曲面特征描述方面的卓越功能。JEOL JSM 5500LV的核心是其電子光學系統，其中包括一個熱電子電子槍，能夠產生能量水平在0.5至30 kV之間的高度聚焦電子束。這種用途廣泛的電子源可以精確地控制光束強度和分辨率，使其適用於導電和非導電樣品的成像，而無需大量的樣品制備。JSM 5500LV具有一個帶有電動舞臺的大腔室,可容納各種大小和形狀的樣品,為各種應用程序提供了靈活性。舞臺可以手動控制，也可以通過直觀的軟件界面進行控制，使用戶可以輕松導航和定位樣本進行成像和分析。JEOL JSM 5500LV的主要優勢之一是其高分辨率成像能力,最大放大倍數可達300,000倍,在30 kV時分辨率為3 nm。這一級別的細節使精細的表面特征和納米結構具有非凡的清晰度,使其非常適合材料科學、納米技術和生物研究。除了成像之外，JSM 5500LV還通過能量色散X射線光譜（EDS）和波長色散X射線光譜（WDS）系統為元素和化學成分分析提供了先進的分析能力。這些探測器可以很容易地與SEM集成在一起，以提供有關樣品內元素組成和分布的寶貴信息，增強儀器的整體分析能力。JEOL JSM 5500LV配備了綜合軟件包，允許用戶控制SEM操作的各個方面，獲取和處理圖像，執行元素分析，生成綜合報告。軟件界面設計為用戶友好和直觀，使新手和經驗豐富的用戶能夠有效和高效地操作儀器。總體而言，JSM 5500LV掃描電子顯微鏡是用於高分辨率成像和微觀分析的最先進的工具，為廣泛的科學和工業應用提供了無與倫比的性能和多功能性。JEOL JSM 5500LV具有先進的功能、易用性和卓越的成像能力,是任何試圖突破微觀和納米級成像和分析界限的實驗室或研究機構的寶貴資產。
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