二手 JEOL JSM 5510 LV #293657551 待售
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ID: 293657551
Scanning Electron Microscope (SEM)
SE and BSE Detectors
Motorized stage
IR Chamberscope
Does not include EDS.
JEOL JSM 5510 LV是一種掃描電子顯微鏡,設計用於成像表面和特征,分辨率和放大倍數不超過100,000倍。這種精密儀器利用二次電子和反向散射電子運行,二次電子和反向散射電子是由一次電子束從其電子源與被研究樣品相互作用產生的。它配備了高分辨率、數字顯示和圖像捕獲和分析的集成成像系統。這種掃描電子顯微鏡(SEM)的放大倍率範圍很大,從100倍到100,000倍,以及標本觀測的工作距離範圍。它還擁有一個可以安裝用於樣品成分分析的能量色散X射線探測器。JEOL JSM 5510LV配備冷場發射源(FES),提供更大範圍的電子束電流和更快的操作;這樣可以提高SEM的性能和它可以提供的分辨率。此SEM的一些高級功能包括:自動增益控制(通過自動調節成像鏈中的增益來提高圖像質量),樣品控制的激光導航和可選的樣品漂移校正系統。該單元配有大型真空室和整體式浮動臂,允許樣品在廣泛的方向和角度上安裝和定位。這通過在掃描過程中方便地吸收振動和沖擊來提高樣品穩定性,從而最大限度地減少樣品運動,改善成像結果。JSM 5510 LV掃描電子顯微鏡是一種用於研究納米材料、表面和結構的高度先進的工具。其優越的分辨率和獨特的成像能力使其成為各種研發領域的寶貴資產。
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