二手 JEOL JSM 5510 LV #293669766 待售

製造商
JEOL
模型
JSM 5510 LV
ID: 293669766
Scanning Electron Microscope (SEM) Accelerator voltage: 0.5-30 kV Magnification: 18-300000 Resolution: 3.5 nm Maximum sample size: φ150 mm Angle range: -10°-90° Rotate: 360° Specimen movement range: X: 20 mm Y: 10 mm Z: 5-48 mm.
JEOL JSM 5510 LV掃描電子顯微鏡(SEM)是一種先進的成像和分析儀器,設計用於納米力學、材料科學、取證和生命科學領域。此SEM提供明暗場成像、二次電子成像、分析能力以及50倍至500萬倍的放大倍數。5510 LV配備了先進的電子槍和光束控制系統,以實現最佳圖像質量和高效操作。它還配有一個用於高分辨率成像的現場發射反配對鏡頭。先進的電子槍在10kV和40kV之間產生一系列高壓放大倍數。還包括一個MicroPore Systems Inc.示例階段,以便於示例加載和自動化階段操作。5510 LV為各種不同的樣品類型提供了高靈敏度的二次電子成像。它還提供高分辨率的遠場和近場成像解決方案,非常適合研究納米級的樣品組成。此外,5510 LV配備了多種先進的分析特性,包括能量色散X射線光譜(EDS)、X射線熒光(XRF)、波長色散X射線光譜(WDX)。這些特性使用戶能夠以分子尺度識別樣品中存在的元素。最後,5510 LV配備了多種軟體模組,包括EDAX EDS、FEI EDS、FEI XRF、FEI WDX和Automated Stage Scanning(ASS),用於高效可靠的影像和分析收集。有了這些先進的軟件包,用戶可以輕松產生高分辨率的圖像,並快速分析他們的樣本。5510 LV還能夠適應各種用戶需求,允許用戶為不同類型的實驗和應用定制自己的SEM。
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