二手 JEOL JSM 5510 LV #293671432 待售

JEOL JSM 5510 LV
製造商
JEOL
模型
JSM 5510 LV
ID: 293671432
Scanning Electron Microscope (SEM).
JEOL JSM 5510 LV是為多種應用而設計的掃描電子顯微鏡(SEM)。它具有可變壓力和低壓場發射槍(FEG)源,以提高化學和物理性能,同時還提供了廣泛的可變壓力能力和更高的圖像分辨率。這使得它成為生物、半導體、材料科學等領域SEM分析和材料表征的理想儀器。JEOL JSM 5510LV的電子源是低壓FEG,允許在放大倍數過程中穩定的減小充電和場發射電流,同時在低放大倍數時提供短加速電壓和更高的分辨率。此FEG還允許多個光束收斂角度,從而在創建所需圖像時提供更大的靈活性。真空室和可變壓力選項也有助於減少真空從氣壓降解,允許更高的圖像分辨率,即使在非常高的放大倍數。該系統還具有較大的分析和成像能量範圍,從0.5 keV到30 keV,使其非常適合所有類型的成像,從輕元素到重元素。包括柱內能量色散光譜檢測器,操作員可以對所有類型的樣品進行定性和定量分析。列內的能量濾波器還可以幫助操作員進行元素分析。對於生物樣品的成像和分析,JSM 5510 LV系統提供了一個環境SEM (ESEM)選項。這種模式旨在最大限度地減少樣品的水蒸發,這是正常的SEM所做的,同時仍然提供高分辨率的圖像。最後,JSM 5510LV為用戶提供了廣泛的示例準備選項。濕樣和幹樣品均可采用柱內冷凍聚焦選項,這有助於確保達到最大放大倍數。還提供一系列濺射系統用於塗層和成像樣品,如鉑、金和碳。總體而言,JEOL JSM 5510 LV是一款功能強大的掃描電子顯微鏡,旨在提供最先進的成像功能。它的可變壓力和低壓FEG源允許在更高的放大倍數下顯示清晰的圖像,即使是濕的和生物樣品,而其廣泛的能量分散和樣品制備選項使其成為一系列應用的理想選擇。
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