二手 JEOL JSM 5510 LV #9236006 待售
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ID: 9236006
優質的: 2002
Scanning Electron Microscope (SEM)
Operating system: Windows 2000
Electron beam type: W-Fillment
Manual backup
Resolution: 3.5 nm at 30 kV
Magnification: 18x (WD48 mm) - x300000 (136 steps)
Electron gun: Tungsten hair pin
Beam current: 1 pA - 10 nA
PC
LV Mode:
Resolution: 4.5 nm at 30 kV
Vaccum: 10-270 pA
Accelation voltages:
0.5 - 30 kV
0.5 - 3 kV (100 kV step)
3 - 30 kV (1 kV step)
Stages:
X Axis: 20 mm
Y Axis: 10 mm
Z Axis: 43 mm (WD5-48 mm)
Tilt Axis: 10±90
Rotation: 360°
Display:
LCD, 17"
SVGA
Monitor: IBM PC/AT
SDRAM: 64MB
Image output:
640 x 480
1280 x 960
Auto function:
Auto Contrast and Bright (ACB)
Auto focus
Auto stigma
Vacuum system:
Compressor: 1.0 MPa
Automatic control
Diffusion pump: 100 L / min
Pumping speed: 2min 30sec
Power supply: 100 VAC Single phase.
2002 vintage.
JEOL JEM 5510是一種掃描電子顯微鏡（SEM），設計用於材料科學和物理科學研究的多種應用和技術。這個模型利用鎢絲陰極來發射一束向樣品加速的電子束。這樣就可以獲得樣本的高分辨率和高通量圖像。樣品放置在真空環境中，以確保沒有空氣進入和幹擾電子束。JEM 5510包含一個專用真空系統，能夠達到5 x 10-7Torr的壓力條件。高分辨率電子束是通過45kV鎢絲陰極產生的，該陰極可以調節，以便在高分辨率和低分辨率圖像之間調諧。使用JEOL JEM 5510的反向散射探測器，可以以低至0.5nm的分辨率捕捉到標本的影像和影片。此外，該模型還具有一個高動態測距儀，可以捕捉到樣品的最細微的細節，一直到埃的水平。JEM 5510配備了一個電動舞臺，允許自動掃描樣品。這樣就可以方便地在同一平面上對樣品進行自動的點對點掃描。預定義的樣品支架持有一個最大直徑8.5厘米的樣品。對於更高分辨率的成像，JEOL JEM 5510提供了二次電子探測器，以提供更高對比度和更高分辨率的圖像。這種探測器在低真空應用中特別有用，例如用有機材料成像樣品。此外，發射源的先進設計可以防止任何外部磁場幹擾更細膩的成像要求。JEM 5510的多功能設計擴展到其軟件功能。此模型帶有計算機操作的用戶界面,允許訪問各種成像模式以及數據處理功能。總體而言，JEOL JEM 5510是一種強大的掃描電子顯微鏡，非常適合小型和高通量成像。憑借強大的構建質量、先進的功能和令人印象深刻的軟件功能,JEM 5510在其價格範圍內提供了巨大的價值。
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