二手 JEOL JSM 5600 #293618709 待售

JEOL JSM 5600
製造商
JEOL
模型
JSM 5600
ID: 293618709
Scanning Electron Microscope (SEM).
JEOL JSM 5600是一種掃描電子顯微鏡(SEM),設計用於運行各種樣品條件和分析技術。它以1.2 nm的分辨率獲取高達50,000倍放大倍率的數字圖像,並且可以收集二次電子或反射電子信號。SEM利用常規的反射/衍射方法,其中電子是從電子源產生的,聚焦並入射到樣品上以產生圖像。電子束由平行的電場和磁場形成,在樣品和檢測器之間形成電子的最佳密度。JEOL JSM-5600的分辨率非常精確,允許對樣品表面進行精確成像,直至原子水平。SEM的光學元件是一種特殊的鏡頭組合,有助於提供低背景噪聲的最高質量的圖像。JSM 5600采用模塊化設計,使用戶能夠根據自己的確切需求配置系統。可以根據需要添加可選的舞臺適配器,以容納各種樣板支架和舞臺。SEM完全由計算機控制,允許用戶輕松設置實驗。用戶可以使用各種軟件來控制亮度、分辨率、對比度和顯示模式。該系統包括用於成像的二次電子探測器、用於組成或地形分析的反向散射電子探測器、用於元素分析的X射線探測器以及用於樣品條件的環境控制器。所有這些探測器都可以結合使用,以便對材料進行高度詳細的分析。JSM-5600可用於晶體結構分析、材料研究和分析、表面分析、生物醫學成像和半導體制造等多種研究和工業應用。其強大的性能和多用途的設計使其成為高級研究和分析的理想工具。
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