二手 JEOL JSM 5600LV #293648302 待售

JEOL JSM 5600LV掃描電子顯微鏡（SEM）是對一系列樣品材料進行成像、元素組成和3D分析的強大工具。它具有先進的電子光學器件和優於傳統SEM的不確定性分辨率，從而產生高分辨率圖像。同時獲取多個圖像也是可能的。此外，2軸測角儀使調整標本方向變得快捷易行。JSM 5600LV具有二次電子探測器,具有3 D成像功能,包括數字陰影成像和野外發射槍,可優化對焦調節。另外，二次電子探測器可以與能量色散X射線探測器結合，產生成像和元素組成測量。JEOL JSM 5600LV還提供自動圖像處理和直觀的用戶界面。自動化圖像處理功能包括對比度調整、邊緣銳化、缺陷誇張校正和運動補償。直觀的用戶界面允許輕松選擇參數和簡化樣本操作,包括將標簽、顏色和符號分配給特定位置的功能。此外,還提供了各種各樣的成像和分析工具,從高通量無漂移成像到數據處理和分析。JSM 5600LV具有先進的高分辨率模式,可用於對小型樣品進行成像或檢測超低對比度特征。這種模式可以提高圖像分辨率，即使在低加速電壓下也能呈現出更高對比度的圖像。低加速電壓模式也減少了樣品的X射線發射，消除了對鉛屏蔽的需要。此外，掃描電子顯微鏡還配備了一系列不同樣品尺寸和形狀的樣品支架，包括安裝在導電銷上的樣品，以便於操作。JEOL JSM 5600LV提供自動粒子和體積測量功能,能夠進行精確可靠的定量分析。它能夠測量最大100納米的顆粒，並能夠比較樣品之間的顆粒或樣品內的不同點。JSM 5600LV的動態範圍擴展到每秒110億個計數，允許精確測量低對比度特征。此外,它還能夠測量樣品的物理屬性,包括高度和寬度、相變和局部曲面電勢。最後，JEOL JSM 5600LV非常適合對納米結構形態進行成像，以及掃描厚厚的樣品。它是一種用途廣泛且易於使用的顯微鏡解決方案，適用於從材料科學到生命科學的各種應用。