二手 JEOL JSM 5600LV #293664532 待售

JEOL JSM 5600LV是一種用於材料科學領域的掃描電子顯微鏡（SEM）。它具有多種先進的特點，非常適合對各種樣品進行詳細的觀察和分析。這種顯微鏡利用碳絲電子源產生電子束，然後在樣品上掃描產生放大圖像。與其他SEM相比,JSM 5600LV具有多種優勢。它配有一個大視野，可以觀察較大的樣品。此外，它的最大放大倍率高達500,000倍，掃描速率高達每秒40幀，提供的細節遠遠超出了光學顯微鏡。顯微鏡還能夠產生多種類型的圖像，包括高角度環形暗場（HAADF）和大面積掃描（LAS）。這意味著它可以用來檢測樣品的不同截面或可能用光學顯微鏡看不見的感興趣區域之間的對比。顯微鏡還提供了多種樣品制備技術。可用於低溫制劑觀察易碎樣品或導電薄膜沈積。此外，它還能夠進行電子反向散射衍射（EBSD）分析。這使得它能夠觀察晶體結構，確定晶粒尺寸，分析各種材料的力學性能。顯微鏡可用於多種研究應用。它是成像微米大小的粒子或結構的理想選擇，也可用於分析元素組成。此外,它還可用於檢查微觀結構（如晶界、缺陷和形態）,以及測量晶粒尺寸。它也被用來分析陶瓷材料的形態，而它的LAS模式可以觀察到熔化和結晶的行為。最後，JEOL JSM 5600LV是一個令人難以置信的用戶友好工具。顯微鏡的操作軟件設計直觀，有有用的指令和自動圖像優化。這使得學習如何操作顯微鏡變得容易，即使對於那些經驗有限的人來說也是如此。綜上所述，JSM 5600LV是一種出色的掃描電子顯微鏡，為廣泛的研究應用提供了詳細觀察和分析所必需的所有特征。