二手 JEOL JSM 5600LV #293767930 待售
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ID: 293767930
Scanning Electron Microscope (SEM)
SEI-BEI Detector
Resolution: 3.5 nm at 30 kV
Magnification: 18 - 300000
Low vacuum mode: 5.0 nm at 30 kV
Adjustable pressure: 10 to 270 Pa
Hi-Tech water chiller
No EDS
Stage:
Automatic: X and Y
Manual: Z.
JEOL JSM 5600LV是一種掃描電子顯微鏡（SEM），用於觀察不同類型材料的表面形態和3維結構。它具有高分辨率，最大放大倍數為40萬倍。具有低真空環保設計，具有低壓微束操作。它配有CCD（電荷耦合器件）相機，用於樣品觀測。顯微鏡具有聲級，能夠以高分辨率掃描小樣品。它在X、Y、Z方向的舞臺移動範圍為5毫米，掃描速度高達600nm/sec。它還配備了4個光束可調光圈透鏡，提供不同的分辨率放大倍率，這取決於應用要求。鏡頭可以從非常低的放大率（100 x）調整到更高的放大率（400 x）。JSM 5600LV還有一個電子源類型的鎢的，它產生電子，可以用來創建圖像。圖像信號然後由CCD相機收集，然後圖像顯示在顯微鏡的監視器上。顯微鏡有一個可以檢測帶電和中性粒子的粒子探測器，以及光譜研究用的光粒子。它還有一個圖像處理系統，允許實時和實時的圖像處理。圖像處理系統可用於增強圖像的對比度和亮度,以及添加顏色、線條繪圖和文本註釋。JEOL JSM 5600LV是一種用途廣泛、功能強大的顯微鏡，在材料和半導體研究中有廣泛的應用。它提供了不同樣本的詳細、高分辨率圖像，可以用於各種研究目的。
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