二手 JEOL JSM 5600LV #9105934 待售

製造商
JEOL
模型
JSM 5600LV
ID: 9105934
Scanning Electron Microscope (SEM).
JEOL JSM 5600LV是一種掃描電子顯微鏡,能夠提供高分辨率成像和樣品分析。它采用了先進的電子光學設計,采用了冷場發射槍和冷凝器透鏡,以提供高亮度和出色的分辨率。顯微鏡配備了超高分辨率肖特基野外發射槍,使最大光束分辨率達到1.7nm。這臺顯微鏡還具有自動化的光學對準系統,提供了入射角、焦點、散光等參數的自動調節,最大限度地減少圖像失真,最大限度地提高分辨率。JSM 5600LV利用超穩定檢測器來確保卓越的可重復性和圖像穩定性。它配備了500萬像素的背光電荷耦合器件(CCD)探測器或互補的金屬氧化物半導體(CMOS)相機,提供出色的成像效果。SEM進一步配備了全孔徑5段二次電子探測器,用於高分辨率成像。JEOL JSM 5600LV具有廣泛的分析和成像能力。這些包括元素映射、相位分析、納米復合材料分析、X射線光譜和表面輪廓映射。它還允許在標準掃描模式和高倍掃描模式下成像。該顯微鏡能夠借助多收集器系統對微觀特征進行精細的探測。該系統還允許自動柱移動以快速準確地訪問所有必要的顯微鏡設置。JSM 5600LV還有一個直觀的用戶界面來促進用戶交互。它具有自動控制功能,簡化了對顯微鏡的直觀控制。它還配備了彩色液晶顯示屏,便於圖像監控和導航。它還包括一個外部控制端口,該端口能夠通過遠程接口(如PC或筆記本電腦)控制SEM功能。JEOL JSM 5600LV是一種先進的分析工具,非常適合各種應用。它能夠提供高分辨率成像和樣品分析。它具有廣泛的分析和成像功能,以及易於操作的直觀用戶界面。它非常適合許多行業的各種研究應用。
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