二手 JEOL JSM 5600LV #9314114 待售

JEOL JSM 5600LV
製造商
JEOL
模型
JSM 5600LV
ID: 9314114
Scanning Electron Microscope (SEM) Operating system: Windows 7.
JEOL JSM 5600LV是一種高級掃描電子顯微鏡(SEM),設計用於成像、分析和表征具有亞埃水平分辨率的樣品。該儀器配備了高壓靜電透鏡和高性能低壓相機。該設計具有可變壓力室,可在低真空和高真空模式下運行。這允許在極端條件下進行成像和樣品分析,從而使用戶能夠在高橫向分辨率下控制最佳成像條件。該儀器還配備了四象限、四通道切爾尼-特納單色儀。該工具允許使用從紫外線到紅外線的各種電磁信號進行成像,從而實現多種分析類型。光束功率和強度可以調整到1%的精度。還有一個三通道電子能量分析儀,可以測量電子束的波長,識別樣品的組成。樣品室具有電動樣品運動,便於樣品加載和精確定位。配備快速掃描的高加速電源,掃描時間短。JSM 5600LV能夠同時進行高分辨率成像和高速成像。該系統具有廣泛的成像功能,包括采樣全方位(SAR)視野和3-Dimensional (3D)成像。JEOL JSM 5600LV掃描電子顯微鏡還配備了真空系統和離子束沈積單元(IBDU)。IBDU允許用戶制備和沈積功能性薄膜,如氧化層和金屬或非金屬塗層。也可用於制造聚合物、半導體和其他材料表面。此外,它還可以沈積透明導電塗層,如氧化錫(ITO).該儀器提供高級分析工具,如X射線分析、粒子分析、逆向工程和3D重建。這樣可以實現廣泛的應用,從材料研究到故障分析和逆向工程。它也是對表面和塊狀材料進行定量表征的理想工具,確保了準確解釋的可靠數據。總體而言,JSM 5600LV是一種先進的掃描電子顯微鏡,即使在極端條件下也能進行最佳成像和分析。它提供了一系列分析和特性分析功能,以實現各種應用和研究目的。
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