二手 JEOL JSM 5610 #293819045 待售

JEOL JSM 5610
製造商
JEOL
模型
JSM 5610
ID: 293819045
Scanning Electron Microscope (SEM).
JEOL JSM 5610是一種高性能掃描電子顯微鏡(SEM),配有電子槍、靜電式電子光學柱、電子透鏡和探測器。電子透鏡有助於控制電子束,檢測器檢測二次電子、反向散射電子和X射線,使其成為2D和3D成像、成分分析、納米級成像等應用的理想選擇。JEOL JSM-5610的束電流可以調整,以允許高分辨率成像和低劑量應用。一個重要的特點是背景噪聲低,使其成為敏感成像應用的理想選擇。為了改善圖像對比度,SEM配備了一個獲得專利的InGaAs Quad Detector,它允許在高能和低能範圍內同時成像二次電子和反向散射電子。JSM 5610能夠達到5 nm的分辨率,並且能夠將標本放大至200,000x。SEM還配備了自動xy級,可容納60 mm大小的樣品,並以1 μ m的增量移動。利用其自動化階段,用戶可以快速方便地操縱標本進行成像。JSM-5610中的光束電流是可調的,SEM配備了整體延遲場能量分析儀和高分辨率EDS(能量色散光譜儀),可以對樣品進行精確表征。此外,SEM還配備了邊緣上反向散射電子探測器和信號處理器,提高了成像吞吐量,減少了圖像失真。最後,JEOL JSM 5610還支持廣泛的成像應用,包括納米探針、智能形狀和斷層掃描。憑借其高性能、精確的表征能力和廣泛的應用,JEOL JSM-5610是一個強大的研發工具。
還沒有評論