二手 JEOL JSM 5610 #9008606 待售
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已售出
ID: 9008606
優質的: 2002
Scanning electron microscope
Resolution (high vacuum mode): 3.5nm (3.5nm@Acc.volt30kv,WD6mm)
Accelerating voltage: x0.5 to 30kV (53 steps)
Images: SEI, BEI (COMPO, TOPO, Shadow)
Magnification: 18(18x@WD48)x to 300,000x (in 136 steps)
Specimen size: less than 6"
Specimen stage:
Eucentric goniometer
X: 80mm
Y: 40mm
Z: 5 to 48mm
Tilt: -10° to 90°
Rotation: 360°
Electron gun: W filament
Gun bias: automatically settable for all accelerating voltages
Image shift: +12 micrometer or -12 micrometer
Displayed image: 640 x 480 pixels(640×480, 1280×960pixels)
Analytical functions: OXFORD ISIS EDS system
Detectable element range: 5B to 92U
Backscatter
EDS
2002 vintage.
JEOL JSM 5610掃描電子顯微鏡（SEM）是一種高度先進的成像和分析儀器，用於廣泛的研究領域。它使用戶能夠以詳細的分辨率和準確性觀察樣品的內部結構和表面組成。JEOL JSM-5610在電子束柱架構上運行，該架構由電子槍、加速度柱、電磁光學和探測器組成。它裝有鎢絲電子槍，將電子加速到預定的能量。然後電子被靜電透鏡聚焦，允許對樣品進行高分辨率成像。標本的高分辨率圖像可以在x5至x500, 000的各種放大倍數下獲得。JSM 5610的加速電壓從0.2kV到30kV是可變的，允許對不同厚度水平的樣品進行深入分析。JSM-5610掃描電子顯微鏡還能夠對樣品進行能量色散X射線分析。EDX系統與電子槍耦合，為用戶提供樣品中存在元素的元素識別。此外，JEOL JSM 5610配備了廣泛的探測器，可以收集二次電子、反向散射電子和發射電子，為用戶提供與樣品表面地形有關的寶貴信息。探測器還使用戶能夠獲得樣品的組成圖和地形圖，可進一步用於深入的材料分析和特征分析。總體而言，JEOL JSM-5610是一種功能強大的儀器，在樣品成像和分析方面為用戶提供了極高的精確度和準確性。它配備了前沿的特點和技術，以簡單方便方便用戶。對於需要先進成像和分析能力的研究所和工業實驗室，強烈建議使用JSM 5610掃描電子顯微鏡。
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