二手 JEOL JSM 5610LV #9259734 待售

JEOL JSM 5610LV是一種掃描電子顯微鏡（SEM），利用可變壓力系統來允許小樣品的高分辨率圖像。該儀器使用戶能夠以不同的放大倍率和分辨率水平查看樣品，還提供了一個低電壓範圍（35-2,000 V），增加了它的多功能性。對於高分辨率成像，顯微鏡配備了牛津儀器IX35 X-MAXN能量色散X射線探測器，提供幾乎瞬時的元素映射和能量過濾成像樣品。它具有+30/-30°的集成級傾斜規格和80mm的級長。此外，該儀器的設計還便於維護和操作人員進入。在成像能力方面，JSM 5610LV能夠在二次電子（SE）中產生具有5nm視場的1nm成像分辨率。此外，它還能夠在反向散射電子（BSE）模式下提供5-10nm和14nm視場之間的成像分辨率。除了圖像采集，顯微鏡還為粒子識別和粒子計數任務提供自動特征識別。該儀器同時采用以太網連接和獨立系統模式運行，允許用戶調整電壓、停留時間、顯示亮度和對比度等各種參數。此外,用戶還可以使用自動圖像采集和控制軟件設置自動成像協議。此軟件還提供了靈活的後處理選項,允許用戶處理數據並導出圖像以供查看。總體而言,JEOL JSM 5610LV是一款功能強大且用途廣泛的SEM,可提供高分辨率成像和廣泛的成像功能。此外，其多種特性使其適合材料分析、研究、質量控制等多種應用。