二手 JEOL JSM 5800 #9189494 待售
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ID: 9189494
Scanning electron microscope (SEM)
Tungsten hairpin filament emission source
Large size eucentric specimen stage: Specimen, 8"
(5) Axes motor drive
Travels:
X-axis: 125 mm
Y-axis: 100 mm
Z-axis: 43 mm
Rotation: 360º
Tilt: -10º to 90º
Accelerating voltage:
0.3 - 3 kV ( 100 V steps)
3 - 30 kV (1 kV steps)
Electron gun: W Filament
Working distance: 8-48 mm
High-resolution imaging: 3.5 nm
Magnification: 18x to 300000x
Vacuum chamber accommodates specimens: 4" diameter
Versatility: SEI / BEI Modes
Includes:
Cables
Manuals
Readily accessible cross-sectional measurements
Onboard computer for controller
Infrared chamberscope with monitor
Video printer.
JEOL JSM 5800掃描電子顯微鏡（SEM）是一種高性能、通用的分析工具，設計用於成像和元素分析。它具有強大的高保真場發射電子源，使其對標本形態細節的差異高度敏感。它具有30 kV的最大加速電壓和高達100 nA的最大探針電流。JEOL JSM-5800還配備了一整套用戶友好的軟件包，包括JEOL LaB6測量，它提供了地形和組成信息的精確測量。顯微鏡的主要光學設備由兩個可移動的元件組成，產生了從源頭到樣品的平行電子束。其電子光學的對角對稱性提供了改進的圖像分辨率和更大的視野。它的可調光束直徑可以在1-500納米之間，甚至可以用來識別材料成分上最小的差異。它的二次電子探測器可以區分原子序數不同的材料，使其非常適合識別樣品內的元素。JSM 5800的高級設計允許用戶在多個檢測器系統之間進行選擇和切換，優化具有一系列特性的樣品分析。它的核殼探測器系統能夠檢測二次電子和反向散射電子。顯微鏡還配備了新的MicroChemical Analysis Unit，它允許半自動化學分析，分辨率低至1 μ m。JSM-5800帶有一個高度敏感的能量色散X射線探測器，可用於元素分析。內置的成像濾鏡還允許增加不同顯微鏡圖像之間的對比度。最後，該機的自動化取樣階段和計算機控制自動化提供了快速、精確的取樣定位，補充了顯微鏡的高分辨率成像能力。
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