二手 JEOL JSM 5800 #9219589 待售

製造商
JEOL
模型
JSM 5800
ID: 9219589
Scanning Electron Microscope (SEM) EDS OXFORD INSTRUMENTS INCA Energy 350 Cathodes: Lab6 / W Filament Imaging detectors SEI and Solid-state BEI Complex shaped samples: Custom, spring-loaded sample holder Diffusion and roughing pumps SEM Keyboard Cryogenic stage: Large chamber with port Joystick driven stage Detector: 30 mm PC: Microsoft Windows Qual and quant ED programs Digital imaging and line scanning Elemental dot mapping Montage Phase analysis Includes: RO-33 Water air chiller (6) K-Type filaments.
JEOL JSM 5800是一種掃描電子顯微鏡(SEM),設計用於提供高分辨率成像和材料分析。它利用電子束通過檢測樣品發射的二次電子或反向散射電子(BSE)來創建圖像。SEM的高分辨率成像能力使得能夠觀察各種形態、結構,甚至樣品的元素組成。JEOL JSM-5800配備了5米可變壓力室,允許用戶在一系列粒子密度範圍內觀察樣品。低溫電子源可防止樣品損壞,同時保持圖像清晰度和分辨率。JSM 5800配備了先進的電子光學系統,包括前場和場校正線圈、孔徑相幹性和預氣冷凝器透鏡。這些組件有助於提高圖像分辨率和對比度。該系統還具有透鏡內探測器,可進行能量色散X射線(EDX)分析。這允許用戶評估樣本組成。JSM 5800具有自動聚焦功能,可幫助在觀察具有可變組成或地形的樣品時進行快速、準確的測量。由數字微處理器控制的柱內能量濾波器有助於減少由於雙重散射和光束汙染而可能出現的錯誤圖像信號。此特征也可用於獲得薄或扁平樣品的高對比度圖像。JEOL JSM 5800還配備了各種成像模式,旨在分析樣品的形狀、成分和電性能。其明暗場成像模式使用「信號中性」值檢測樣本的地形特征。放大圖像分析軟件隨附顯微鏡,允許對圖像的像素進行定量分析。總之,JSM-5800掃描電子顯微鏡是一種先進的設備,能夠提供高分辨率圖像,分析形態特征,提供樣品的元素組成。顯微鏡的多功能性和易操作性使得它成為許多應用的有用工具,尤其是在材料科學研究中。
還沒有評論