二手 JEOL JSM 5800LV #293586819 待售

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製造商
JEOL
模型
JSM 5800LV
ID: 293586819
Scanning Electron Microscope (SEM) EDS Detector OXFORD INSTRUMENTS AZtec SSD Detector: 80 mm².
JEOL JSM 5800LV是一種先進的掃描電子顯微鏡(SEM),為材料科學和固態電子應用提供高分辨率成像能力。它配有高分辨率場發射電子源和冷探針樣品架,允許極低的樣品溫度以提高分辨率。JEOL JSM 5800 LV的高能電子束使得各種材料的高通量成像成為可能。它具有較大的景深,可以從納米尺度到微觀尺度對結構特征進行成像。JSM 5800LV具有大型真空室,可容納直徑不超過175毫米或更大的樣品,並帶有可選的尺寸包絡。它配備了用於精細聚焦和放大控制的雙電視攝像機設備,與顯示器相連,便於觀看圖像。此外,大腔室允許最多三個樣品同時成像與覆蓋功能。JSM 5800 LV還帶有集成的數據采集和分析系統,使電子顯微鏡圖像能夠實時記錄和分析。該單元包括一個強大的圖像分析機,它允許自動圖像處理、數據分析和定量測量。該集成工具還具有特殊軟件,用於樣品圖像和衍射數據的3D重建。JSM 5800LV是一種多功能SEM,旨在為材料科學和固態電子應用提供高分辨率成像功能。它結合了先進的硬件和軟件,使用戶可以在納米級獲得材料和設備的高分辨率圖像。從操作的角度來看,大型真空室和集成的數據采集/分析資產使其成為高效可靠的工具。此外,低溫探針樣品支架使用戶能夠以非常高的分辨率對各種材料進行成像,這對於許多材料科學應用來說是必不可少的。
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