二手 JEOL JSM 5800LV #293760985 待售
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ID: 293760985
Scanning Electron Microscope (SEM), parts system
Control box
(2) Energy‑Dispersive X‑ray spectroscopies (EDX)
Turbomolecular vacuum pump
Turbo mount.
JEOL JSM 5800LV掃描電子顯微鏡(SEM)是一種功能強大、可靠的儀器,用於各種科學探索。它是一種高性能裝置,適用於包括聚合物、陶瓷、金屬和半導體在內的多種材料。它特別適合於以亞微米甚至納米分辨率檢測材料的表面結構。JEOL JSM 5800 LV配備了一系列特性和功能,為用戶提供最佳性能水平。首先,它有一個可變壓力設備,以防止在操作過程中電子與大氣相互作用造成樣品損壞。其次,它具有先進的電子檢測系統,被稱為反向散射檢測單元(BDS),它允許兩個數量級的寬動態範圍。由於其靈敏度,這臺機器還能夠對任何樣品進行數字成像。JSM 5800LV的SEM掃描儀還可以方便操作,並提供出色的圖像分辨率。其光束加速度電壓在1.5kV和2.5kV進行了優化,掃描範圍可覆蓋45kV,最大分辨率為1.3nm (0.13 µm)。它的舞臺是機動化的,具有可移動的樣品支架,允許沿著x、y和z軸快速和容易地移動。JSM 5800 LV的能量色散光譜(EDS)工具允許對樣品進行元素分析。它使用戶能夠從整個樣本中收集一個頻譜,以及點映射。此外,該設備還提供各種圖像校正,旨在增強圖像的對比度、亮度和采樣深度。此外,JSM 5800LV的設計考慮了安全性。其X射線檢測資產和離子保護機制在發生任何危險時向用戶發出警報。它的回收模型也避免了樣品不僅受到高加速電壓的破壞,而且還受到高能電子束的破壞。總而言之,JEOL JSM 5800LV掃描電子顯微鏡是研究多種材料的強大而可靠的工具。它配備了多種功能以提供出色的性能和圖像分辨率,以及安全功能以保護樣品和用戶免受輻射。它特別適合對納米級以下的表面結構進行成像。
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