二手 JEOL JSM 5800LV #293825915 待售

JEOL JSM 5800LV掃描電子顯微鏡（SEM）是一種從納米到微觀尺度的材料探測的強大分析工具。在這種裝置中，電子束聚焦在樣品的一小塊區域，由電子源產生。在JEOL JSM 5800 LV中,電子源是一種場發射器類型,其工作原理是首先創建一個將電子從發射器吸引到樣品表面的電場。一旦發生這種情況，電子就會激發樣品，使其發射電子，然後向探測器移動。JSM 5800LV配備了反向散射電子檢測器（BED），使用戶能夠以高分辨率獲得樣品的信息。BED的工作原理是檢測二次電子和反向散射電子，兩者都包含關於樣品的獨特信息，如其表面地形和元素組成。二次電子可以與光源發出的光進行比較，用於檢測樣品的精細表面結構。JSM 5800LV還配備了可選的能量色散X射線微分析（EDX）設備,提供樣品的元素組成。該系統的工作原理是從特征X射線中收集能量，這些X射線是當電子與樣品中的原子相互作用時產生的。EDX單元然後分析這些能量並將其轉化為元素組成。JSM 5800 LV Scanning Electron Minccope還配備了易於使用的菜單機，可以讓用戶快速輕松地調整儀器的成像參數。用戶可以微調傳輸電流、光束入射角、電壓和磁場大小，以便捕捉樣品最詳細的圖像。總體而言，JEOL JSM 5800LV是一種出色的掃描電子顯微鏡，具有多種特點，使其成為工業和學術研究應用的寶貴工具。其先進的成像能力，加上用戶友好的菜單工具，使其成為納米級成像的理想選擇。