二手 JEOL JSM 5800LV #9079565 待售

JEOL JSM 5800LV是一種高性能掃描電子顯微鏡，能夠提供各種樣品的詳細成像。該儀器利用電子束產生的二次電子（SEs）來創建樣品表面的高分辨率圖像。高壓電子槍能夠產生高達30kV的電子束，檢測器設計成對0.5至30kV範圍內的SE成像。顯微鏡可以在高分辨率和低真空SEM模式下操作，允許廣泛的成像能力。試樣室的設計可容納各種大小和形狀的樣品，其特點是真空室能夠達到高達1.3 x 10-3 Pa的壓力。試樣級設計有一個樣品馬達，可將樣品支架沿x-y-z方向移動，從而便於樣品特征的精確對準。舞臺配備了樣本夾緊能力，用於制作樣本特征的安全錄音。JEOL JSM 5800 LV能夠產生樣品的高分辨率圖像。該成像設備采用Everhigh Optics光柱和3級偏轉器,允許在1.4mm的磁場尺寸下將成像分辨率降至1.4nm,在0.4mm的磁場尺寸下最大成像分辨率為0.9nm。成像系統還配備了專有的Everhigh「超HR點」模式，利用狹窄的照明區域實現高衍射限分辨率。顯微鏡還配備了多項先進功能，包括多模探測器單元、自動分析機、永光探測器和「顏色」分析模式。多模探測器工具能夠記錄SE、反向散射電子和X射線光譜，從而能夠對樣品特征進行全面的成像和分析。Everglow探測器消除了外部幹擾（如氣流）造成的圖像失真,從而實現了對高分辨率樣品的清晰成像。最後,「顏色」分析模式能夠從樣本圖像中提取和顯示顏色信息,從而更深入地了解樣本的內部結構。綜上所述，JSM 5800LV是一種高性能掃描電子顯微鏡，能夠提供一系列的成像和分析能力。高速Everhigh光學柱和多模探測器相結合，為樣品提供極高分辨率的成像和分析，使研究人員能夠獲得無與倫比的對其形成的洞察力。此外,多模式探測器資產、自動分析模型和顏色分析模式允許對樣品進行詳細成像,直至原子水平。