二手 JEOL JSM 5800LV #9255669 待售

製造商
JEOL
模型
JSM 5800LV
ID: 9255669
Scanning Electron Microscope (SEM) With pumps and vacuum.
JEOL JSM 5800LV是一種高分辨率掃描電子顯微鏡(SEM)設備,設計用於微分析、成像、故障分析等各種科研和工業應用。這款SEM擁有場發射槍(FEG)電子源,產生比傳統熱發射電子源更快、分辨率更高的圖像。它還具有很長的工作距離,這使它能夠準確地集中在距離較遠的地區。JEOL JSM 5800 LV提供高分辨率成像、高達0.8 nm和高分辨率分析數據,信噪比極佳。它還提供了一個很好的視野,足夠大的觀測大樣本。其可變壓力室允許在高真空和低真空模式下操作,使其適合多種應用。JSM 5800LV還具有較高的速度,使其能夠比其他SEM更快地處理圖像。數據通常是由包括二次電子成像(SEI)、反向散射電子成像(BSEI)或陰極發光(CL)在內的幾種技術組合處理。它還能夠對較大面積的樣品進行圖像縫合。該系統裝有一個自動導航和對準裝置,使樣品準備工作迅速和容易。這臺機器還有助於減少樣品汙染和促進樣品的準確定位。可以使用自動導航對齊工具掃描示例,然後使用手動掃描控制面板來微調掃描設置。JSM 5800 LV也有內置真空資產,能夠維持所需的真空水平。此外,SEM模型還集成了能量色散X射線微分析(EDXA)和電子反向散射衍射(EBSD)設備,允許用戶詳細分析其樣品的材料組成。總體而言,JSM 5800LV是一種功能強大且先進的掃描電子顯微鏡,專為各種應用而設計。它提供卓越的分辨率、速度以及自動導航和對齊功能。其集成的能量色散X射線微分析(EDXA)和電子反向散射衍射(EBSD)系統使其適合材料分析。它非常適合各種研究和工業應用,是任何實驗室的寶貴工具。
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