二手 JEOL JSM 5800LV #9270028 待售

JEOL JSM 5800LV掃描電子顯微鏡（SEM）是一種用於以納米級分辨率成像和分析材料的設備。該儀器利用電子束與樣品表面相互作用，並提供有關被分析材料的大小、孔隙度和形態的信息。JEOL JSM 5800 LV的高分辨率可調電子束可以對小粒子和結構進行成像，其清晰度和精度都比光學顯微鏡所能提供的高。該儀器設計為操作方便，並提供一系列先進的功能，以達到最佳性能。其完全可調的真空室使研究人員能夠控制工作環境進行樣品查看。真空室還有助於在各種成像條件下保持最佳分辨率。此外，可利用成像柱改變電子束角度，優化成像結果。JSM 5800LV配備高分辨率EDS檢測器系統，提供準確的元素信息。這種最先進的探測器，結合其對電子束的高壓加速度和精確控制，使得獲得最小粒子和結構的最高質量圖像成為可能。該儀器具有先進的操作界面，有助於確保分析的準確性和可重復性。它附帶了一系列圖像處理選項,以及各種自動測量工具和強大的分析包,可用於進一步分析和數據解釋。此外,JEOL JSM 5800LV與一系列第三方圖像處理軟件兼容。JSM 5800LV掃描電子顯微鏡是納米級成像和分析材料的有力工具。其可調電子束、先進的電子探測器系統和大量的圖像處理選項，使其適合於捕捉研究中最小粒子和結構的高質量圖像。該設備為教育和研究機構提供可靠的結果和卓越的資金價值。