二手 JEOL JSM 5900 #9102873 待售

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製造商
JEOL
模型
JSM 5900
ID: 9102873
Scanning electron microscope (SEM) Tungsten source Detection modes: secondary, backscatter Chamberscope Resolution: 3nm @ 30kV (Se mode), 5nm @30kV (BSE mode) 5-Axis stage Operating system: Windows 98.
JEOL JSM 5900是一種高級掃描電子顯微鏡(SEM),設計用於高分辨率成像和測量各種樣品。它利用鎢絲電子槍,以及場發射槍,為優秀的電子探針放大。它的設計還使它能夠以高分辨率在多個信息通道中拍攝圖像。JEOL JSM-5900具有5,000毫米的大工作距離,能夠分析和分析視野廣闊的大型樣品。它支持從0.7納米到30毫米的放大範圍,也能夠進行三維成像和定量分析。而且,其鏡頭內視頻和二次電子成像系統大大提高了成像細節和分辨率。JSM 5900的高性能探測器允許同時收集二次電子和反向散射電子。這為樣品提供了優越的地形細節。它還具有一系列探測器,如光電倍增管(PMT)、通道電子倍增器(CEM)和能量分散(EDX)系統,便於對樣品的化學成分進行詳細分析。JSM-5900還裝有JEOL觀察控制工具(JOCT),它為高級SEM操作提供了易於使用的接口。它能夠收集大量的成像通道,以及處理和分析來自EDX/WDS系統的圖像和光譜。此外,系統還配備了自動化功能,如自動對準和樣品膜厚度測量。總體而言,JEOL JSM 5900是一種功能強大的掃描電子顯微鏡,提供最佳成像和分析能力。其用戶友好的JOCT界面簡化了設備的操作,而其多個探測器和自動化功能使其成為實驗室高分辨率、先進成像需求的最佳選擇。
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