二手 JEOL JSM 5900LV #293600373 待售
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ID: 293600373
優質的: 1999
Scanning Electron Microscope (SEM)
PGT Avalon EDS system
XPJ081-1038 Detector
AVALON PGT Controller
1999 vintage.
JEOL JSM 5900LV是一種工業級掃描電子顯微鏡,采用最先進的電子光學和先進的成像技術設計。它具有高性能、多功能性和全面的掃描功能,非常適合以納米分辨率進行材料表征和成像。JEOL JSM-5900LV利用可變壓力電子柱在包括非導電材料和金屬在內的各種樣品上實現最高的圖像分辨率和對比度。先進的槍透鏡控制電子散射,有助於最小化光束形狀的偽影。這使顯微鏡能夠提供任何方向掃描的物體的清晰、高分辨率的二維圖像。JSM 5900 LV還具有先進的陰極發光探測器,在掃描過程中檢測可見和紅外發光。此功能提供了卓越的靈敏度、分辨率和檢測範圍,使用戶能夠輕松識別各種材料的微妙電磁響應,從而幫助用戶確定其組成。JSM 5900LV還具有可調能量色散光譜(EDS)功能,可以快速識別和分析樣品中的不同元素。這一功能強大的工具還允許能量過濾成像以及分析成像,以準確評估材料組成。共焦成像選項也可與JEOL JSM 5900 LV搭配使用,允許使用各種類型的熒光源、探測器和技術。最後,顯微鏡還配備了自動化模塊和廣泛的其他功能,進一步提高了用戶的分析能力。綜上所述,JSM-5900LV是材料表征和成像的理想顯微鏡。它結合了先進的電子光學和精密的成像技術,產生了最高的圖像分辨率和對比度,而它的EDS和共焦能力為用戶提供了寶貴的數據。JEOL JSM 5900LV的自動化模塊和其他升級功能陣列只會增加其功能和便利性。
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