二手 JEOL JSM 5900LV #293665576 待售

製造商
JEOL
模型
JSM 5900LV
ID: 293665576
Scanning Electron Microscope (SEM).
JEOL JSM 5900LV是一種掃描電子顯微鏡(SEM),用於高精度和分辨率的成像表面和其他微觀特征。它使用聚焦電子束掃描樣品表面以生成圖像。JEOL JSM-5900LV中的電子束通過電子槍加熱的鎢絲產生,然後使用靜電透鏡聚焦。然後將電子加速到高能級,並以一定角度向下指向樣品。當光束掃描樣品表面時,電子與材料相互作用,導致二次電子級聯釋放。然後收集並檢測這些電子,並用得到的信號生成樣品表面的圖像。JSM 5900 LV能夠提供高分辨率圖像,並且在收集與樣品的地形、元素組成和缺陷有關的數據方面非常高效。它還具有高達50毫米的大視野,可以對大樣本區域進行成像。JEOL JSM 5900 LV也有很大的景深,使得它可以通過一次掃描來獲取不同深度特征的圖像。這是通過使用可調焦點和二次電子探測器而實現的。JSM 5900LV還包括一個最先進的低真空掃描設備,它能夠成像樣品而不需要任何額外的塗層。這樣可以確保獲得的數據質量最高,並且不受塗層材料造成的人工制品的影響。低真空系統也將因電子暴露造成的樣品損傷降至最低,使其適合成像細膩的樣品。該儀器包括一個自動聚焦補償單元,該單元可調節各種場深度的焦點,以及一個將圖像存儲到數字存儲卡上的自動圖像捕獲機。該儀器還包括一個集成的樣本操作工具,該工具允許精確的樣本定位,以及一個控制臺,該控制臺能夠從遠程位置控制儀器。為確保最佳性能,JSM-5900LV配備了一套功能強大的軟件包,可用於圖像采集、圖像處理、分析和數據存儲。該軟件可以定制以滿足用戶的要求,包括圖像縫合、線條剖析和粒度分析等功能。總之,JEOL JSM 5900LV是一種功能強大、用途廣泛的掃描電子顯微鏡,能夠提供高分辨率、高精度和高效率的表面圖像和其他特征。集成的低真空掃描資產、最先進的軟件包以及自動聚焦補償和圖像捕獲模型,使其成為一系列成像和樣本分析應用的理想選擇。
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