二手 JEOL JSM 5900LV #9230474 待售
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ID: 9230474
優質的: 1999
Scanning Electron Microscope (SEM)
EDX System
LINK ISIS Spectrometer 0738
7274 Detector
ATW2, 133ev, 10mm
Computer
Below the lens BSE detector
Requires LN
Cannot be converted to SDD type that does not use LN
Diffusion pump
Tungsten based system: 1 to 25 kV operating range
Objective aperture strip: 3, 20, 30, 100 um
Take off angle value: TA 35
Image detector ports: (2) Vacant ports plus the EDX
Maximum SEM resolution: 2560 x 1920
EDX resolution: 133 ev, ~1024 Pixel image resolution
No film camera
Circular port diameter: 120 mm
Optical resolution: 3.5 nm
Calibration of the gun bias is electronic
(2) PC's
(2) LCD's
(2) RP's
Transformer 100 V
Spectrometer box (same size as a PC)
Manuals
No printer
Ranges:
WD 5-40 (Limited by the under the lens BSE detector)
X and Y: Currently using 4" x 5" holder
Tilt: 90, Z: 48, X: -75 to 50mm, Y: -50 to 50 mm
1999 vintage.
JEOL JSM 5900LV是一種掃描電子顯微鏡（SEM），旨在提供具有最佳分辨率和速度的高級成像能力。它具有超高速、大階段的樣品儲存器，放大倍率範圍為5倍至50000倍，允許廣泛的工業、生物和地質研究應用。該儀器配備了最新的電子光學技術，具有驚人的穩定性和精確度。它的反射率探測器和數字成像可以對超細結構和納米結構進行詳細的可視化，分辨率低至1nm。這種顯微鏡是通過多場掃描系統啟用的，該系統使用戶能夠在保持相同圖像質量的同時一次捕獲多個圖像。此外，JEOL JSM-5900LV SEM還具有一個低真空環境室，在成像過程中保留了細膩樣品的表面。該儀器輕巧小巧，提供與較大型號相同的性能。它擁有用戶友好的控制系統，使操作員能夠毫無困難地導航和調整半導體成像參數。這包括調整電子束的角度，以不同角度照射樣品，以及調整偏轉和加速度電壓。JSM 5900 LV SEM也兼容了各種各樣的探測器和舞臺配件。這包括一個反向散射電子探測器、一個能量色散X射線探測器、一個反射電子探測器、一個表面探針探測器和一個可調標本支架。這些附件可以快速換出，以增加分析能力。JSM 5900LV是一種功能強大且可靠的掃描電子顯微鏡，提供卓越的圖像質量和原子級分辨率。其先進的電子光學和低真空室使其非常適合多種研究應用，適合廣泛的用戶。SEM具有符合人體工程學的設計、用戶友好的界面和可定制的配件,非常適合生物醫學、材料科學、納米技術和其他科學領域的研究人員。
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