二手 JEOL JSM 5910 #9362883 待售

JEOL JSM 5910是一種先進的掃描電子顯微鏡（SEM）。這種裝置是專門為在高真空條件下以非常高的放大倍數對試樣表面進行詳細成像而設計的。它利用鎢絲電子源使二次電子探測器（SED）和反向散射電子探測器（BSD）都能使用。SEM配備了專門為低真空成像而設計的可變壓力室，可用於對細膩、非導電材料進行成像。它設有一個5軸精密標本級，能夠進行傾斜掃描，並能夠通過12mm的行程對標本進行旋轉和平移定位。此階段還允許自動進行區域和線路掃描。JSM 5910的電子源能夠產生能量高達30kV和可調電流高達8µA的光束。試樣上的光束直徑可小至10nm。該系統配備了鏡頭內槍探測和對準系統，使電子槍相對於標本能夠快速對準。該SEM還配備了多種探測器，包括SE探測器、BS探測器、BSE探測器、雙金塗層SE探測器和超導波長色散X射線探測器。這些探測器支持多種成像模式，包括反向散射成像、地形成像、常規光束微分析和能量色散X射線（EDX）光譜。JEOL JSM 5910使用用戶友好、Windows支持的軟件包操作,該軟件包提供對SEM功能的完全控制。此軟件包包括圖像處理部分,用於圖像采集之前或之後的圖像增強。JSM 5910是一種功能強大、用途廣泛的工具,可用於多種材料的高分辨率成像和元素組成分析。JEOL JSM 5910擁有先進的電子光學、探測器和綜合軟件包,是各種表面成像和分析的理想選擇。