二手 JEOL JSM 5910LV #9203901 待售

JEOL JSM 5910LV是一種掃描電子顯微鏡（SEM），能夠對標本進行高分辨率成像，最大場尺寸可達220mm（8.6英寸）。它是一種通用的SEM,利用二次和反向散射電子成像（SEI和BSEI）進行各種應用,如半導體故障分析、微電子器件檢測、生物和材料科學研究以及其他各種成像和分析任務。JSM 5910LV配備了一個可檢測高達1.4nm的大型圓場檢測器，可在成像樣品時提供出色的分辨率、對比度和細節。它還配有內置的15kV氣場發射槍，與傳統的熱發射槍相比，提供了更好的光束亮度和穩定性。此外,JEOL JSM 5910LV采用雙柱設計,采用3維樣品移動系統,可增強分辨率、景深和成像樣品的精細定位。在圖像對比度方面，JSM 5910LV利用二次電子成像和反向散射電子成像（SEI/BSEI）來獲得樣品最精確、最詳細的圖像。通過使用SEI和BSEI，用戶可以識別樣品的組成和結構，區分不同成分和密度的材料。此外，SEM獲得的高對比度圖像能夠精確測量和分析樣品特征，使得JEOL JSM 5910LV基礎成像和高級研究應用的絕佳選擇。JSM 5910LV還附帶了多種先進的分析工具，如用於元素分析的EDS（能量色散光譜儀）和用於獲取定量元素組成圖像的EDXRF（能量色散X射線熒光）。而且，JEOL JSM 5910LV有一個內置的自動化階段，可以很容易地用來成像更大的標本或多個標本。高級階段還可以用於其他各種任務，如針跡成像、數據采集自動化和分析。總體而言，JSM 5910LV是一種功能強大、用途廣泛的掃描電子顯微鏡，能夠以出色的分辨率和圖像對比度執行各種成像和分析任務。它是故障分析、半導體檢測、生物研究、材料科學研究等應用的理想選擇。JEOL JSM 5910LV具有先進的階段和內置的分析工具,能夠對樣品進行精確、詳細的成像,並為高級研究提供了許多機會。