二手 JEOL JSM 6010 Plus/LA #9284891 待售
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ID: 9284891
Scanning Electron Microscope (SEM)
Main breaker: 15 AT. MP-60110LAB
ULVAC G-100DB Vacuum pump
Ultimate press: 6.7 x 10^-2 PA
Oil capacity: 800 ml
AETFL64PHOO1 Vacuum pump motor
Power supply: 100 V, 50/60 Hz
Pumping speed:
50 Hz 100 l/min
60 Hz 120 l/min
Capacitor:
Start rating: 51, 250 µF
Running: 32 µF
Capacitor motor thermal: 1 Phase
JEC-2137
IP44
1C411
6203 / 6202 Bearing
PSE IME:
R/MIN: 1450, 4 Pole, 60 Hz, 100 V, 5.3 A
R/MIN: 1745 X69001
Power supply: 0.4 kW, 50 Hz, 100 V, 6.1 A
ULVAC OMT-100A Oil mist trap
Maximum flow rate: 120 l/min
MP-01060MS Tilt limitation table
X/Y-Axis Z Holder: 10 mm, 32 mm, 76 mm
8 mm:
10 mm: 0-20 deg
32 mm: 0-20 deg
76 mm: 0-20 deg
10 mm:
10 mm: -2-30 deg
32 mm: -2-30 deg
76 mm: 0-20 deg
15 mm:
10 mm: -10-35 deg
32 mm: -10-35 deg
76 mm: -2-35 deg
20 mm:
10 mm. -10-35 deg
32 mm. -10-35 deg
76 mm. -10-35 deg
Dial reading: -10° - 90°
X-Ray microanalysis
P13333B-NAV Camera
DELL Optiplex 7010
CPU Tower
With PXL2230MW Planar
Monitor
P/N: 997-7039-00
DELL KB212-2 CN-04G481-71616 43B-006U-A00 DP/ N 04G481 Keyboard
DELL D PPID-CN-09RRC7-48729-45L-09FU Mouse
Accessories and manuals
Power supply: 100-240 V, 60/50 Hz, 0.7 A
Power supply: 100 V, 12 A, 1.2 kVA, 1 Phase, 50/60 Hz.
JEOL JSM 6010 Plus/LA是一種用於實驗室和工業應用的多功能掃描電子顯微鏡（SEM）。SEM以優質場發射槍（FEG）為電子源，以x 10至x 600,000之間的放大倍率產生高分辨率影像，放大倍率範圍為x 500至x 150.000。該工作室配備了一系列輔助設備，包括一個6軸電動樣品級，允許在真空下操縱樣品來測量、檢查和分析各種材料。JSM 6010 Plus/LA的掃描電子束通過快速掃描樣品表面和收集二次電子的方式工作，然後轉化為高質量的數字圖像顯示。電子光斑尺寸持續調整、電流可調、柱頭化和電壓等特點，與FEG的低壓性能和高能束相結合，增強了SEM成像能力。JSM 6010 Plus/LA采用了各種各樣的探測器和探測器，允許用戶修改成像參數，以適應一系列成像技術。二次電子探測器（SED）提供了一個二次電子匯總圖像，能夠區分不同類型的材料。一個分析檢測器，如能量色散光譜系統（EDS）或波長色散光譜（WDS）系統，可以被調整以允許能量色散X射線測量和元素分析。JSM 6010 Plus/LA還擁有一個濺射系統，可以對極其脆弱的樣品進行更深入的分析，提供大量關於樣品化學成分的信息。此外,JSM 6010 Plus/LA為用戶提供了多種圖像處理選項,以及以各種文件格式導出數據的可能性。可以創建各種分層圖像和復合材料,數據可用於生成3D圖像。JSM 6010 Plus/LA憑借其廣泛的功能、低功耗要求、自動對準和穩定的控制軟件,為各種實驗室和工業應用提供了卓越的性能,具有無與倫比的控制、精度和速度水平。
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