二手 JEOL JSM 6010 Plus/LA #9412718 待售

JEOL JSM 6010 Plus/LA是一種掃描電子顯微鏡（SEM），設計用於對從絕緣體到導體再到半導體的各種樣品進行詳細觀測。6010 Plus/LA作為一種分析儀器，可以測量二次電子或X射線進行化學和晶體結構分析。此外，它令人印象深刻的30kV加速電壓使得觀察特征和精細細節具有更高的分辨率成為可能。JSM 6010 Plus/LA包含一系列卓越的功能,包括改進的Oxford EDS檢測器,可提高靈敏度並檢測U和Pb的元素。它具有很高的占空比，可以快速、準確地分析樣品。SEM中使用的精密電壓調節器可以將柱的針壓控制保持在1微米以內。6010 Plus/LA的先進電子系統能夠無限期操作顯微鏡。這使得它成為連續運行或頻繁啟動/關閉操作的絕佳選擇。6010 Plus/LA有三種鏡頭可供選擇,每種鏡頭都有其獨特的能力和分辨率。0.5mm物鏡提供3納米的最大分辨率和15mm的視場，而0.3mm物鏡則允許0.8納米的最大分辨率和令人印象深刻的5.2mm視場。0.1mm物鏡非常適合要求最高分辨率的應用,最大分辨率為0.3nm,視野能力為1mm。6010 Plus/LA的人體工程學設計包括對其所有功能的全面手動控制，允許在處理較大樣本或進行研究和分析時提高精度。此外,JSM 6010 Plus/LA還具有易於操作的舞臺,其設計允許基於X-Y平移、雙傾斜和高級焦平面的手動移動。使用易於閱讀的7英寸彩色液晶顯示器,用戶可以以高分辨率或實時放大倍率查看圖像,從而更快、更準確地處理樣本。總之，JEOL JSM 6010 Plus/LA代表了掃描電子微機的最前沿，提供了一系列強大的特性，非常適合各種研究和分析應用。6010 Plus/LA憑借其先進的光學、高壓能力和集成的牛津EDS探測器，是超高分辨率掃描電子顯微鏡用戶的絕佳選擇。