二手 JEOL JSM 6010 Plus/LV #9233065 待售

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ID: 9233065
Scanning Electron Microscope (SEM) With motorized X-Y stage Resolution: 4nm at 20kV Resolution in LV mode: 5nm Magnification: 8x to 300,000x (5x Possible) Includes: Mini-environment / Airlock for air sensitive samples Infrared chamber scope with P-I-P External scan interface Spare parts Tools Manuals EPSON Printer Does not include: AZTEC Energy standard microanalysis system OXFORD INCA EDS XMAXN 80mm Large area analytical silicon drift detector KAMMRATH & WEISS TECHNOLOGIES: Hot stage: 500°C With PID controller Water cooling Data acquisition Remote control Holder Accelerating voltage: 500V to 20kV.
JEOL JSM 6010 Plus/LV是一種多功能掃描電子顯微鏡(SEM),設計用於一系列科學設置。柱式設備提供優異的電子光學性能,優化分辨率3nm。該儀器設有一個大型、增強型標本室,可容納四面最大100毫米的標本。它配備了大功率電子源和樣品移位系統,允許對較大的樣品進行精確的操作和成像。JEOL JSM 6010 Plus/LV的多功能成像功能允許觀察地形特征和元素特征。該單元配備了可旋轉的LED照明機器,能夠提供各種探測器,包括鏡頭內二次和反向散射探測器,以提高圖像質量。支撐電子顯微鏡的放大率,可以調整入射束以覆蓋廣泛的放大率範圍。這是通過一個可移動的光學接入單元實現的,該單元能夠提供30倍至250,000倍的放大範圍。除了提供成像功能外,JSM 6010 Plus/LV還具有一系列數據采集功能,如屢獲殊榮的長掃描和掃描圖像重建(SIR)功能。這些掃描模式大大提高了成像過程的速度和準確性。該儀器的高分辨率成像能力在X射線線管(XLS)工具的支持下得到進一步增強。這允許用戶觀察地形和元素成像的X射線強度變化。JSM 6010 Plus/LV易於使用的生產功能允許高效生產數據和圖像。通過簡單的觸摸屏顯示,可以調整設置以最大限度地提高分辨率,並且集成的AutoScan和Zoom Scan功能允許改進工作流程。此外,資產能夠通過多個接口保存和傳輸數據,從而確保高效存儲和共享大量信息。JEOL JSM 6010 Plus/LV是一款先進的掃描電子顯微鏡,提供高分辨率成像、多功能數據采集和簡單的生產能力。這些特性使其成為一系列科學環境的理想工具,包括教育、研究和工業應用。
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