二手 JEOL JSM 6010LA #293635747 待售

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製造商
JEOL
模型
JSM 6010LA
ID: 293635747
優質的: 2012
Scanning Electron Microscope (SEM) 2012 vintage.
JEOL JSM 6010LA是一種高性能掃描電子顯微鏡(SEM),旨在利用電子在一系列科學研究中的力量。該裝置配有一個具有熱場發射型電子槍的明場掃描電子顯微鏡、一個二次電子探測器、一個能量色散X射線光譜儀和一個用於元素分析的波長色散X射線光譜儀。它可以提供高分辨率的成像,X射線映射和分析標本地形和組成。JSM 6010LA具有提供低壓觀測的能力,易於在低中壓成像和分析的操作模式之間切換。該設備配備了自動化設備,可控制樣品對準,以實現快速、輕松和準確的操作,並配備了便於樣品對準和高度調整的舞臺高度控制。其他方便用戶的功能包括多種自動計數系統、標本圖像自動分割和同時對幾個樣本進行自動掃描。JEOL JSM 6010LA利用矽漂移檢測器(SDD),允許在多個kV和分辨率下進行高分辨率成像和X射線映射。它還能夠產生多模式成像和分析功能,包括反向散射電子(BSE)映射和深度成像。JSM 6010LA配有集成的低真空系統和高靈敏度SED,可在低電壓和中電壓下運行,比傳統的SEM產生更好的效果。此外,這個SEM還配備了電子束微探針單元(EBMP),它提供了對樣品進行定量分析所必需的掃描電子光譜儀。本機利用能量色散分析(EDX)對樣品元素成分進行高靈敏度、低漂移繪制。EBMP捆綁了一個集成的亮場查看選項,允許在晶體結構、晶粒大小和形狀中查看標本特征和特征。JEOL JSM 6010LA是一種多功能掃描電子顯微鏡,能夠產生高分辨率的成像、X射線映射和分析,以及用於一系列科學研究的元素分析。一系列自動化和用戶友好的功能使其成為各種研究應用的有吸引力的設備。
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