二手 JEOL JSM 6010LA #9080849 待售
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ID: 9080849
Scanning electron microscope (SEM)
Equipped with:
Energy Dispersive Spectroscopy (EDS)
Silicon Drift Detector (SDD)
onboard turbo pump
Resolution High Vacuum mode: 4nm (20kV), 8nm (3kV), 15nm (1kV)
Low Vacuum mode: 5nm (20kV) BSE
Accelerating voltage 500V to 20kV
Magnification x5 to x300,000 (printed as a 128mm x 96mm micrograph)
LV detector Multi-segment BSED (std.)
LV-SED (option)
LV pressure 10 to 100 Pa
Maximum specimen size Observation£º125mm diameter
Loadable 152mm
LGS type stage Eucentric goniometer
X=80mm, Y=40mm, Z=5mm-48mm
R=360¡ã (endless)
Tilt -10/+90¡ã
(Computer-controlled 2 or 3-axis motor drive)
Frame Store Up to 5120¡Á3840 pixels
EDS Standard (LA Version)
Embedded EDS system (silicon drift detector technology) Includes: Spectral Mapping, Multi-Point Analysis, Automatic Drift Compensation
Joel JSM-6010LA Microscopes Main Controls
Table Top
Table Base/Power Box
Monitor
Computer
Cords and Cables
Misc Accessories and Parts
Voltage: 100 V
Frequency: 50/60 HERTZ
InTouchScope function:
High resolution imaging in HV/LV/SE/BSE
Chemical analysis with integrated EDS built (standard on LA model)
Multi-touch screen control and wireless operation
Automatic SEM condition setup based on sample type
Simultaneous multiple live image and movie capture
Fast sample navigation at 5x ¨C 300,000x magnifications.
JEOL JSM 6010LA是一種掃描電子顯微鏡（SEM），設計用於廣泛的成像和分析應用。掃描電子顯微鏡使用戶能夠對其樣品的外部表面形成二維圖像。它經常被用於詳細的地表和地形研究。該模型采用獨特的雙束技術，結合了加速電子槍和單色探測器，使常規微觀分析和半導體故障分析成為可能。該儀器的高分辨率和高通量使其成為分析各種納米材料和物體的理想選擇。JSM 6010LA的高性能掃描電子顯微照片提供了出色的成像能力。儀器對二次電子的分辨率為1 nm，反向散射電子的分辨率為0.25 nm。JEOL JSM 6010LA的分析能力全面。該儀器采用能量色散X射線光譜儀對樣品進行元素分析，並采用射場發射槍進行深度剖析。光譜特征可用於測量X射線能量，精度為0.5 eV。能量色散X射線光譜定量提供無制備微量元素分析到ppm水平，沒有任何樣品制備。JSM 6010LA還擁有一個原位納米機械測試工具，能夠研究樣品表面從彈性變形到塑性機械變形的特性。該工具用於分析經過斷裂測試的材料的斷裂表面。為方便操作和自動化,JEOL JSM 6010LA具有多項高級功能。它配有一個自動化的舞臺控制系統和一個機動化的SEM柱，帶有一個自動化的、自鎖的系統來維持標本的位置。它還擁有一個液氮冷凝器，允許可變高度的樣品持有者被處理。總體而言，JSM 6010LA是一種精確、可靠、高效的掃描電子顯微鏡，設計用於高級成像和分析。其出色的成像能力和高分辨率能力使其成為廣泛研究的絕佳工具。
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