二手 JEOL JSM 6010LA #9220325 待售

JEOL JSM 6010LA是一種掃描電子顯微鏡（SEM）.它通過在樣品表面掃描聚焦電子束同時從樣品相互作用中收集二次電子來產生高分辨率圖像。該6010LA有一個新開發的上室，裏面裝有一個冷場發射槍（CFEG）電子源和最多三個探測器之一。這創造了一個寬敞的工作環境，可以快速和安全地進入，使設施能夠執行各種復雜的技術。JSM 6010LA采用了可變壓力二次電子探測器，允許在低壓下成像，大大降低了充電和超深成像。該SEM還能夠使用一種稱為「輪廓識別」的方法獲得廣泛的表面地形測量,該方法可快速生成3D圖像。除了此功能外,它還提供多種成像功能,例如使用單獨的系統進行X射線分析,以便用戶能夠從同一SEM獲取元素和結構信息。JEOL JSM 6010LA旨在提供最高級別的掃描分辨率和精度。其柱內能量濾波器產生的分辨率明顯優於傳統系統，導致突出的細節和對比。除了先進的成像功能外,此SEM還非常適合進行高精度的化學和元素分析。由於其最先進的X射線微分析能量濾波器，它提供了靈敏度高、精度高的獨特元素分布圖像。最後,JSM 6010LA提供了符合人體工程學的設計,其用戶友好的界面提供了簡單的操作。直觀的軟件自動設置最優儀器參數，進一步優化生產率。此外,還提供了多種附加硬件選項,例如低溫觀測的冷凍級,以使6010LA更加通用,並改善用戶體驗。結合所有這些特性，JEOL JSM 6010LA是任何微觀結構分析應用的最佳選擇。